Help

Get three and pay for only two with coupon TRIPLE

$IAM Investigació, Nº 20. Caracterització Textural I Cristal·loquímica De Materials D Interés Tecnològic Mitjançant La Difracció De Raigs X$

IAM Investigació, Nº 20. Caracterització Textural I Cristal·loquímica De Materials D Interés Tecnològic Mitjançant La Difracció De Raigs X

New £15.23You save £4.11

£11.12VAT included

SciencesTechnology

ISBN |

9788478222018

Free SHIPPING

30-day return

Only one unit left, hurry up!

Status

Acceptable

Good

Very Good

£11.12

Like New

Secure payment

Book detailsSoftcover

Publisher

Institucion Alfonso el Magnanimo (Valenc

Pages

104

Language

ca, es

Author: Jose Maria Amigó Descarga

Description

Este libro, titulado 'IAM Investigació, Nº 20. Caracterització Textural I Cristal·loquímica De Materials D Interés Tecnològic Mitjançant La Difracció De Raigs X', es una introducción a la difracción de rayos X por el método de polvo, el método de Rietveld y el análisis microestructural de caolinitas por DRX. Publicado en 1996 por Alfons el Magnànim, Valencia, este volumen de 104 páginas ofrece una exploración detallada de la caracterización textural y cristaloquímica de materiales de interés tecnológico.